• 採用高速動態光學取像系統及影像品質穩定硬體設計,搭配獨有檢測演算軟體,提供精確的缺陷偵測與分類,可應用於各種顯示產品,並滿足不同客戶對於產品良率提升及即時監控的需求。
  • 可對應Array與CF單板、合板或薄化後基板產品,利用特殊光學系統及檢測邏輯針對切割前、切割後或薄化後所產生的刮傷、表面凸起或凹陷、缺崩裂、異物掉落及髒污等缺陷進行檢知與分類並結合人員複判功能機制將產品在出貨前進行有效的品質管控與篩選。
  • 採用高速動態光學取像系統及影像品質穩定硬體設計,搭配獨有檢測演算軟體,針對高解析度CF產品提供精確的缺陷偵測與分類,並滿足不同客戶對於產品良率提升及即時監控的需求。
  • 採用多種光學取像系統及影像品質穩定硬體設計,搭配獨有檢測演算軟體,針對蒸鍍後及雷射修補後所產生或殘留的各類孔洞及表面異常缺陷進行有效檢知與分類及無效缺陷過濾,可應用於CMM及FMM產品。
  • 針對ITO導電薄膜及線路提供高度精確的缺陷偵測與分類,可應用於各種觸控顯示產品,並滿足不同客戶對於產品良率提升及監控的需求。
  • 採用單一或多種光學取像系統,搭配DM影像檢測技術,針對CF全膜塗佈後、曝光顯影前的所產生的膜厚、色度變異或Array曝光顯影後所產生的圖形變異所產生的Mura進行即時檢知。

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