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半導體先進封裝檢量測機
晶彩科技作為半導體先進封裝檢測設備的領導者,針對晶圓級封裝
(FOWLP)
與面板級封裝
(FOPLP)
製程,提供客製化的解決方案,協助客戶實現智慧製造。
顯示所有 8 筆結果
顯示:
6
12
24
36
預設排序
依熱銷度
依平均評分
依最新項目排序
依價格排序:低至高
依價格排序:高至低
FOPLP(面板級先進封裝) Die Location量測機
FOWLP(晶圓級先進封裝) Die Location量測機
YMS良率管理系統
多功能自動光學顯微鏡系統
晶圓自動AI光學缺陷檢量測機
晶圓自動光學缺陷檢測機
晶圓高速AI自動光學拍照複檢機
玻璃基板TGV檢量測機