Array高解析自動光學檢測設備

採用高速動態光學取像系統及影像品質穩定硬體設計,搭配獨有檢測演算軟體,提供精確的缺陷偵測與分類,可應用於各種顯示產品,並滿足不同客戶對於產品良率提升及即時監控的需求。

SPEC/關鍵能力

✔解像及缺陷檢出能力範圍可達 1um~5um
✔可對應G3.5~G10.5基板尺寸。
✔檢出區域零死角,可達100%面板全區域覆蓋
✔卓越的自主影像檢測技術可支援所有尺寸、不同圖像設計及任意形狀的面板產品
✔缺陷智能分類功能
✔提供專業及客製化服務

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