在面板製造中，薄膜電晶體(TFT)控制每個像素的開關，並透過Array陣列方式進行排列，若其中有任何的缺陷，將直接影響到最終產品的品質。Array製程容易產生如斷線、短路、異物、Mura等缺陷。

晶彩科技的的Array高解析自動光學檢測機專為Array製程設計，採用高速動態光學取像系統和影像品質穩定硬體設計，結合獨有的檢測演算法，提供精確的缺陷檢測與分類。

設備特色：
✔解像及缺陷檢出能力範圍可達 1μm~5μm
✔可對應G3.5~G10.5基板尺寸
✔檢出區域零死角，可達100%面板全區域覆蓋
✔卓越的自主影像檢測技術可支援所有尺寸、不同圖像設計及任意形狀的面板產品
✔缺陷智能分類功能
✔提供專業及客製化服務