在面板的塗佈(Coating)製程中，色度、膜厚和光學密度(OD)的品質，是面板在各項顯示功能上極為重要的參數之一。

晶彩科技的色度/膜厚/OD量測機，透過個別、整合的光譜儀量測模組，達到高精度的自動精密目標量測。

設備特色：
✔高精度量測：採用高精度光學取像量測模組，結合X/Y龍門移動平台及光源設計，提供CD/Overlay高精度量測
✔多功能性： 可個別或整合搭載色度/膜厚/OD光譜儀量測模組，一次滿足多種量測需求