Skip to content
電話: 886-3-5545988 | 傳真: 886-3-5545989
|
sales@favite.com
關於晶彩
晶彩沿革
晶彩組織
新聞中心
產品資訊
面板顯示器檢測設備
半導體檢測設備
PCB 檢測設備
智能製造
人力資源
問答集
聯絡我們
服務據點
投資人專區
基本資料
財務資訊
公司年報
公司治理
股東專區
企業社會責任
繁體中文
简体中文
搜索結果:
關於晶彩
晶彩沿革
晶彩組織
新聞中心
產品資訊
面板顯示器檢測設備
半導體檢測設備
PCB 檢測設備
智能製造
人力資源
問答集
聯絡我們
服務據點
投資人專區
基本資料
財務資訊
公司年報
公司治理
股東專區
企業社會責任
繁體中文
简体中文
Mura缺陷自動光學檢測設備
採用單一或多種光學取像系統,搭配DM影像檢測技術,針對CF全膜塗佈後、曝光顯影前的所產生的膜厚、色度變異或Array曝光顯影後所產生的圖形變異所產生的Mura進行即時檢知。
分類:
自動光學檢測設備
,
面板顯示器檢測設備
相關商品
高速自動光學拍照機
OLED顯示器光罩檢測設備
觸控面板自動光學檢測設備
Close product quick view
×
標題
Page load link
Go to Top