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Wafer Bow Inspection System
Solar Cell Wafer Bow Inspection
Item
Specifications
Wafer size
5″ or 6″ solar square wafer
Wafer thickness
> 150 um
Optical Resolution
> 85um
Optional Function
1. Defect binning
2. SPC
分類:
AOI/AICM
,
Solar Cell
,
AOI
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