應用領域
半導體產業
面板產業
電路板產業
設備特色
晶彩科技結合多年的AOI產業及缺陷檢量測經驗,開發出的YMS良率管理系統,切入客戶的真實需求,整合大量AOI數據,建立產品完整生產履歷。簡潔易用的使用者介面,讓管理者隨時掌握產品品質,同時透過即時監控與分析工具,迅速找出製程異常問題根源並加以改進。
設備特色:
✔Web版架構,透過網域可同時多人遠端登入上線,隨時隨地掌握生產狀況
✔生產履歷資料統計報表輸出
✔設備生產時的缺陷即時狀態監控
✔整合缺陷Map疊圖及缺陷類型判Code各項功能
✔可彙整AOI缺陷圖資,進行離線缺陷觀察與量測
✔結合AI進行大數據分析,並反饋至生產設備,以針對生產異常發出預警
✔人員缺陷手動判定與分類
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