在面板制造中，薄膜电晶体(TFT)控制每个像素的开关，并透过Array阵列方式进行排列，若其中有任何的缺陷，将直接影响到最终产品的品质。 Array制程容易产生如断线、短路、异物、Mura等缺陷。

晶彩科技的的Array高解析自动光学检测机专为Array制程设计，采用高速动态光学取像系统和影像品质稳定硬体设计，结合独有的检测演算法，提供精确的缺陷检测与分类。

设备特色：
✔解像及缺陷检出能力范围可达 1μm~5μm
✔可对应G3.5~G10.5基板尺寸
✔检出区域零死角，可达100%面板全区域覆盖
✔卓越的自主影像检测技术可支援所有尺寸、不同图像设计及任意形状的面板产品
✔缺陷智能分类功能
✔提供专业及客制化服务