在面板的涂布(Coating)制程中，色度、膜厚和光学密度(OD)的品质，是面板在各项显示功能上极为重要的参数之一。

晶彩科技的色度/膜厚/OD量测机，透过个别、整合的光谱仪量测模组，达到高精度的自动精密目标量测。

设备特色：
✔高精度量测：采用高精度光学取像量测模组，结合X/Y龙门移动平台及光源设计，提供CD/Overlay高精度量测
✔多功能性： 可个别或整合搭载色度/膜厚/OD光谱仪量测模组，一次满足多种量测需求