在OLED面板的生产环节中，蒸镀和雷射修补时，可能产生或残留孔洞缺陷及表面异常缺陷，如Particle、Residue、Hole Damage等问题，需进行有效检知、分类，及无效缺陷过滤，避免严重影响产品品质。

晶彩科技的OLED检测机，采用多种光学取像系统及影像品质稳定硬体设计，搭载独有检测演算法，完成高精准的缺陷检知与分类。

设备特色：
✔解像及缺陷检出能力范围可达 3μm~5μm
✔检出区域可同时涵盖光罩区及外框区，确保检测无遗漏
✔检测技术可支援不同图像设计，以及任意形状的光罩产品
✔缺陷智能分类功能，有效区分有效缺陷与无效缺陷，提高检测效率