晶彩科导入AI 检测MicroLED瑕疵

AI在工业製造的应用愈来愈广，光学检测也普遍导入AI应用，透过AI优秀的分类及检出能力，大幅提高生产速度，并简化设备需求。晶彩科技也透过AI物件侦测技术导入到MicroLED量测上，提供给客户最简单有效的解决方案，成为智慧製造的品质守护者。

晶彩科技透过AI物件侦测技术的导入，可即时检测LED瑕疵，此外能以非常快的速度量测所有LED的偏移、旋转，且凭藉着晶彩多年来的光学设计经验，一般需要仰赖3D量测模组才能量测的LED发光面倾斜，也可直接透过晶彩科技自行开发的成像系统来取得，达成AI瑕疵检测过程中同时完成了LED偏移量测、LED旋转量测、LED倾斜量测，大幅提高生产速度，并简化设备需求。

AI或是传统演算法并没有绝对的优劣之分。在当今少量多样与客製化的趋势之下，AI技术应用在背景複杂，製程变异大，或是瑕疵型态不固定的状况下，将有更佳的应用空间。相对的，在大面积、製程固定一致，对速度要求严苛的场域，则非常适合传统演算法，究竟採取何种方式，除了使用者的判断之外，更是专业AOI厂商的智慧。晶彩科技公司展出摊位：南港展览馆一馆4楼L526。