Micro LED CPO高精度檢量測機

  • 支援缺陷類型
    可支援 Micro LED 各類晶粒缺陷及缺晶檢知
  • 量測功能
    高精度 Micro LED 陣列之對位偏移 / 旋轉量測,重複精度可達0.2μm
  • AI 智慧分類
    搭載 AI RTDC 與 AI ADJ ,有效區分有效缺陷、無效缺陷及缺陷類型,提高檢測效率

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