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晶彩科重视研发及专利布局,更积极布局新显示技术与制程领域,更多详细资讯可参考4楼摊位L218「FAVITE」。
图/晶彩科技提供
4月19日至21日在南港展览馆一馆盛大展开的「2023 Touch Taiwan系列展-智慧显示展览会」,是台湾上半年最大的电子科技产业盛会,集结各大重量级厂商参加,一起大秀智慧显示、智慧制造,以及国际工业材料等相关领域的应用与解决方案。
晶彩科技提供了包括Micro LED、Micro OLED、FOPLP、TFT LCD、Touch Panel、电子纸、OLED等产品一系列的检量测解决方案,其中针对Micro LED显示器生产流程提供了包含Chip On Wafer/Carrier晶粒检量测机、Backplane Panel Pad & 晶粒检量测机以及Panel侧边导线检量测机等三大产品主题,将同步于会展上提出最新技术以及实际应用。
晶彩科技表示,公司最新开发的一系列Micro LED检量测设备均搭载了新一代高速崁入式AI即时检测架构,在Chip On Wafer/Carrier晶粒检测机方面,可因应庞大数量级的晶粒缺陷检测及巨转后的晶粒偏移与旋转量测;Backplane Panel Pad & 晶粒检量测机则能针对驱动线路的短断路、金属Pad的缺损与异常、以及LED Bonding在金属Pad后的位置偏移,进行精准的检测与量测;另外Panel侧边导线检量测机则可对应不同切割尺寸,同时进行磨边导角面及正侧面扫描,提供金属导线短断路检测、导线与驱动线路间的Overlay以及线路尺寸量测监控解决方案。全系列产品有助于客户提升良率分析及制程效率,达到优化生产流程与产品品质的目的。
综合而言,晶彩科技应用AI AOI即时检量测技术于Micro LED、Micro OLED、TFT LCD、Touch Panel、电子纸、OLED等产品,有效避免异常品后流,能够更快、更准、更好地满足客户的需求,同时提升产品品质和生产效率。
晶彩科秉持自主研发,持续重视研发及专利布局,近年来更积极布局新显示技术与制程领域,提供客户高精度、高品质的自动光学检测量测设备,以及产线缺陷检出及良率监控完整解决方案。