色度/膜厚/OD量测机

✔高精度量测:采用高精度光学取像量测模组,结合X/Y龙门移动平台及光源设计,提供CD/Overlay高精度量测
✔多功能性: 可个别或整合搭载色度/膜厚/OD光谱仪量测模组,一次满足多种量测需求

分享至:

谘询我们 / Contact

    咨询产品

    以上提交之资料,仅供晶彩科技内部留存使用,资讯绝不外流,敬请放心。