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全新Micro LED Backplane 高速检量测机

全新Micro LED Backplane 高速检量测机

✔速度提升1.5倍的全新一代机种
✔支援Backplane各类晶粒缺陷与缺晶检知
✔最小缺陷检出精度：1μm
✔同步执行高精度晶粒偏移/旋转量测，重复精度可达0.7μm
✔搭载AI RTDC与AI ADJ，有效区分有效缺陷，无效缺陷及缺陷类型，提高检测效率

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