Micro OLED Mask 缺陷检量测机

✔R/G/B defect, Foreign Material、PR Residue、Film Broken
✔CMM Mask:12inch
✔Mask 各類缺陷檢測:Particle、纖維、蝕刻不良、有機物殘留、金屬殘留
✔Mask 尺寸量測:表面平坦度、開口尺寸和Frame高度
✔AI 即時缺陷分類
✔Min. Defect size:1μm

分享至:

谘询我们 / Contact

    咨询产品

    以上提交之资料,仅供晶彩科技内部留存使用,资讯绝不外流,敬请放心。