晶彩科技 提供全新Micro LED檢量測解決方案

晶彩科重視研發及專利布局，更積極佈局新顯示技術與製程領域，更多詳細資訊可參考4樓攤位L218「FAVITE」。
圖／晶彩科技提供

4月19日至21日在南港展覽館一館盛大展開的「2023 Touch Taiwan系列展-智慧顯示展覽會」，是台灣上半年最大的電子科技產業盛會，集結各大重量級廠商參加，一起大秀智慧顯示、智慧製造，以及國際工業材料等相關領域的應用與解決方案。

晶彩科技提供了包括Micro LED、Micro OLED、FOPLP、TFT LCD、Touch Panel、電子紙、OLED等產品一系列的檢量測解決方案，其中針對Micro LED顯示器生產流程提供了包含Chip On Wafer/Carrier 晶粒檢量測機、Backplane Panel Pad & 晶粒檢量測機以及Panel側邊導線檢量測機等三大產品主題，將同步於會展上提出最新技術以及實際應用。

晶彩科技表示，公司最新開發的一系列Micro LED檢量測設備均搭載了新一代高速崁入式AI即時檢測架構，在Chip On Wafer/Carrier晶粒檢測機方面，可因應龐大數量級的晶粒缺陷檢測及巨轉後的晶粒偏移與旋轉量測；Backplane Panel Pad & 晶粒檢量測機則能針對驅動線路的短斷路、金屬Pad的缺損與異常、以及LED Bonding在金屬Pad後的位置偏移，進行精準的檢測與量測；另外Panel側邊導線檢量測機則可對應不同切割尺寸，同時進行磨邊導角面及正側面掃描，提供金屬導線短斷路檢測、導線與驅動線路間的Overlay以及線路尺寸量測監控解決方案。全系列產品有助於客戶提升良率分析及製程效率，達到優化生產流程與產品品質的目的。

綜合而言，晶彩科技應用AI AOI即時檢量測技術於Micro LED、Micro OLED、TFT LCD、Touch Panel、電子紙、OLED等產品，有效避免異常品後流，能夠更快、更準、更好地滿足客戶的需求，同時提升產品品質和生產效率。

晶彩科秉持自主研發，持續重視研發及專利布局，近年來更積極佈局新顯示技術與製程領域，提供客戶高精度、高品質的自動光學檢測量測設備，以及產線缺陷檢出及良率監控完整解決方案。