最新消息
News

由經濟部主辦的第三十一屆中小企業創新研究獎,於本月20日舉行頒獎典禮,國內自動化光學檢量測(AOI)廠商,晶彩科技股份有限公司,憑藉在Micro LED巨量轉移後檢量測的卓越技術,榮獲創新研究獎。本次獎項由經濟部長郭智輝親自頒獎,肯定晶彩科技在Micro LED檢量測領域投入多年的研發量能。
晶彩科技所研發的Micro LED巨量轉移後檢量測機(Micro LED COC AOI),成功解決了Micro LED製程中的一個棘手難題:如何快速、精準地檢測數千萬顆微米大小LED晶粒,在轉移過程中產生的各種缺陷。
目前多數的Micro LED AOI,僅能針對Micro LED COW(Chip on Wafer)段的缺陷檢測,但晶彩科技得益於多年來在影像處理和機器視覺領域的深厚積累,能對應COC(Carrier on Carrier)後,晶粒重放置後不同排列、旋轉與偏移量等狀況。面對數量級達數千萬,缺陷小至1微米(1μm)、且瑕疵特徵極為不明顯的狀況,晶彩科技採用自研的AI AOI檢測技術,克服傳統演算法針對特定狀況難以判定缺陷的問題。同時深度優化產品使用者體驗操作,最終獲得評審團的認可,成功取得「創新研究獎」的榮耀。
晶彩科技自2000年成立至今,已邁入近25個年頭,目前為兩岸主要面板廠的AOI關鍵供應商,近年更將業務版圖擴張至Micro LED / Micro OLED、半導體先進封裝與IC載板等領域,提供給客戶最精準高效的檢測(Inspection)與量測(Metrology)解決方案,讓晶彩AOI成為智慧製造的品質守護者。