Array高解析自动光学检测设备

採用高速动态光学取像系统及影像品质稳定硬体设计，搭配独有检测演算软体，提供精确的缺陷侦测与分类，可应用于各种显示产品，并满足不同客户对于产品良率提升及即时监控的需求。

✔解像及缺陷检出能力范围可达 1um~5um
✔可对应G3.5~G10.5基板尺寸。
✔检出区域零死角，可达100%面板全区域覆盖
✔卓越的自主影像检测技术可支援所有尺寸、不同图像设计及任意形状的面板产品
✔缺陷智能分类功能
✔提供专业及客製化服务

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