Micro OLED Cover Glass 缺陷检测机
✔Main Defect Type: Particle, crack, chipping, bubble, stain
Micro OLED wafer: 12inch Glass-wafer
✔适用制程: Cover-Glass IQC
✔Glass 缺陷:异物、凹凸点、破片、裂痕、脏污
✔Glass 正/反面同时检测并能辨识缺陷位于正面或反面位置
✔AI 即时缺陷分类
✔Min. Defect size:0.3μm
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分类: Micro OLED检测机, 次世代显示器检量测机
应用领域
Cover Glass IQC
设备特色
作为覆盖在Micro OLED面板最外层的组件,Cover Glass须保护面板免于受到刮伤、撞击等物理损伤,以及防止灰尘、湿气等环境影响,同时确保其高透光率与最佳显示效果。 Cover Glass需经过严格的品质管控,避免玻璃表面及内部有任何极细微的缺陷产生。
设备特色:
✔Main Defect Type: Particle, crack, chipping, bubble, stain
Micro OLED wafer: 12inch Glass-wafer
✔适用制程: Cover-Glass IQC
✔Glass 缺陷:异物、凹凸点、破片、裂痕、脏污
✔Glass 正/反面同时检测并能辨识缺陷位于正面或反面位置
✔AI 即时缺陷分类
✔Min. Defect size:0.3μm
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