Micro OLED Cover Glass 缺陷檢測機

✔Main Defect Type: Particle, crack, chipping, bubble, stain
Micro OLED wafer: 12inch Glass-wafer
✔適用製程: Cover-Glass IQC
✔Glass 缺陷:異物、凹凸點、破片、裂痕、髒污
✔Glass 正/反面同時檢測並能辨識缺陷位於正面或反面位置
✔AI 即時缺陷分類
✔Min. Defect size:0.3μm

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應用領域

Cover Glass IQC

設備特色

作為覆蓋在Micro OLED面板最外層的組件,Cover Glass須保護面板免於受到刮傷、撞擊等物理損傷,以及防止灰塵、濕氣等環境影響,同時確保其高透光率與最佳顯示效果。Cover Glass需經過嚴格的品質管控,避免玻璃表面及內部有任何極細微的缺陷產生。

設備特色:
✔Main Defect Type: Particle, crack, chipping, bubble, stain
Micro OLED wafer: 12inch Glass-wafer
✔適用製程: Cover-Glass IQC
✔Glass 缺陷:異物、凹凸點、破片、裂痕、髒污
✔Glass 正/反面同時檢測並能辨識缺陷位於正面或反面位置
✔AI 即時缺陷分類
✔Min. Defect size:0.3μm

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