Features
- 异物、纤维、蚀刻不良、有机物残留、金属残留。
- CMM光罩:8吋、12吋。
- 支持表面平坦度、开口尺寸和Frame高度量测。
- AI即时缺陷检测:即拍即检即分类
晶彩科技股份有限公司(台湾证券交易所代码:3535)
民国八十九年三月十日经经济部核准设立。
© Copyright 2000 – 晶彩科技股份有限公司
地址:30267新竹县竹北市环北路二段197号
电话: 886-3-5545988
传真: 886-3-5545989
Email: [email protected]