在OLED面板的生產環節中，蒸鍍和雷射修補時，可能產生或殘留孔洞缺陷及表面異常缺陷，如Particle、Residue、Hole Damage等問題，需進行有效檢知、分類，及無效缺陷過濾，避免嚴重影響產品品質。

晶彩科技的OLED檢測機，採用多種光學取像系統及影像品質穩定硬體設計，搭載獨有檢測演算法，完成高精準的缺陷檢知與分類。

設備特色：
✔解像及缺陷檢出能力範圍可達 3μm~5μm
✔檢出區域可同時涵蓋光罩區及外框區，確保檢測無遺漏
✔檢測技術可支援不同圖像設計，以及任意形狀的光罩產品
✔缺陷智能分類功能，有效區分有效缺陷與無效缺陷，提高檢測效率